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基于步进加速退化试验的电子产品可靠性评估技术
贾占强;蔡金燕;梁玉英;韩春辉
系统工程理论与实践 . 2010, (7): 1279 -1285 .  DOI: 10.12011/1000-6788(2010)7-1279