基于步进加速退化试验的电子产品可靠性评估技术

贾占强;蔡金燕;梁玉英;韩春辉

系统工程理论与实践 ›› 2010, Vol. 30 ›› Issue (7) : 1279-1285.

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中国科学院数学与系统科学研究院期刊网
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系统工程理论与实践 ›› 2010, Vol. 30 ›› Issue (7) : 1279-1285. DOI: 10.12011/1000-6788(2010)7-1279
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基于步进加速退化试验的电子产品可靠性评估技术

    贾占强;蔡金燕;梁玉英;韩春辉
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