芯片测试环节质量重入随机系统建模与性能分析

李娜, 江志斌, 郑力, 李杰

系统工程理论与实践 ›› 2011, Vol. 31 ›› Issue (8) : 1593-1599.

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中国科学院数学与系统科学研究院期刊网
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系统工程理论与实践 ›› 2011, Vol. 31 ›› Issue (8) : 1593-1599. DOI: 10.12011/1000-6788(2011)8-1593
论文

芯片测试环节质量重入随机系统建模与性能分析

    李娜1, 江志斌1, 郑力2, 李杰3
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Modelling and analysis of semiconductor test system with quality re-entrance and stochastic characteristic

    LI Na1, JIANG Zhi-bin1, ZHENG Li2, LI Jie3
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